宇時(shí)UM-5D超聲波掃描測(cè)厚儀,包含UM-5的所有特性：彩色實(shí)時(shí)A/B掃描，過零測(cè)量技術(shù)，可設(shè)置增益、消隱、閘門、范圍、延時(shí)、射頻、倒向射頻、正半波、負(fù)半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數(shù)，耦合或報(bào)警時(shí)厚度值和波形顏色動(dòng)態(tài)改變。增加回波-回波測(cè)量模式，用于穿透涂層測(cè)量基材厚度，標(biāo)配TC510穿透涂層探頭。

宇時(shí)UM-5DL超聲波掃描測(cè)厚儀,包含UM-5D的所有特性：回波-回波測(cè)量模式,穿透涂層測(cè)量,彩色實(shí)時(shí)A/B掃描,過零測(cè)量技術(shù),可設(shè)置增益、消隱、閘門、范圍、延時(shí)、射頻、倒向射頻、正半波、負(fù)半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數(shù),耦合或報(bào)警時(shí)厚度值和波形顏色動(dòng)態(tài)改變。增加大容量數(shù)據(jù)記錄器，包含通訊軟件及USB通訊電纜,標(biāo)配TC510穿透涂層探頭。

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