宇時(shí)UM-4D超聲波測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

宇時(shí)UM-4D超聲波測(cè)厚儀穿透涂層

宇時(shí)UM-4D超聲波測(cè)厚儀穿透涂層的產(chǎn)品特點(diǎn)：

包含UM-4的所有特性，增加回波-回波測(cè)量模式，用于穿透涂層測(cè)量基材厚度，標(biāo)配TC510穿透涂層探頭。

1.同檔產(chǎn)品中*采用清晰亮麗的OLED真彩屏：

對(duì)比度10000：1，是TFT彩色液晶屏的40倍；分辨率320*240，是同檔產(chǎn)品的9倍以上。

2.更快的測(cè)量更新率：

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調(diào)；普通的應(yīng)用可選擇4Hz，當(dāng)需要快速掃查時(shí)可選更高的更新率。

3.創(chuàng)新的A掃描快照功能，標(biāo)志著經(jīng)濟(jì)型測(cè)厚儀進(jìn)入全數(shù)字時(shí)代：

UM-4D在同檔產(chǎn)品中提供A掃描快照波形顯示功能，超聲波不再是看不見(jiàn)摸不著的抽象概念，用戶在屏幕上可直接看到超聲信號(hào)波形，用于驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問(wèn)題的原因、幫助用戶找到解決問(wèn)題的辦法。

4.具有穿透涂層功能，不再需要費(fèi)時(shí)費(fèi)力的去除涂層工作了：

我們之前在國(guó)內(nèi)推出了具有穿透涂層技術(shù)的UM-1D測(cè)厚儀，現(xiàn)在UM-4D同樣具備了這一*的功能。該功能是通過(guò)測(cè)量基材的兩個(gè)連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。該模式下還具有更多的優(yōu)勢(shì)：免零點(diǎn)校準(zhǔn)；高穩(wěn)定性，測(cè)量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；零漂移。

5.業(yè)界經(jīng)濟(jì)型全數(shù)字測(cè)厚儀：

全數(shù)字測(cè)厚儀需要把模擬的超聲波信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算處理，zui終獲得高性能的厚度測(cè)量能力。UM-4D的過(guò)零測(cè)量技術(shù)、高分辨力、A掃描快照功能都是以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)的。

6.同檔產(chǎn)品中*真正達(dá)到0.01mm分辨能力的超聲波測(cè)厚儀：

一般超聲波測(cè)厚儀的顯示分辨率通常是0.01mm，但真實(shí)的分辨能力很難達(dá)到0.01mm。普通測(cè)厚儀電 路內(nèi)的定時(shí)計(jì)數(shù)器一般在30MHz以下，真正的硬件分辨力勉強(qiáng)只能到0.1mm，通過(guò)把多次測(cè)量結(jié)果取平均值的方法，模擬0.01mm變化的顯示效果，其實(shí)這樣并不能有效提高真實(shí)的分辨力，反而造成示值不穩(wěn)定的現(xiàn)象。UM-4D超聲波測(cè)厚儀采用突破性的全數(shù)字技術(shù)及特殊的算法，其真實(shí)分辨力可達(dá)到0.01mm，實(shí)驗(yàn)證明可輕松分辨出厚度只相差0.01mm的兩個(gè)試塊。

7.采用突破性的過(guò)零測(cè)量技術(shù)：

以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)，采用過(guò)零測(cè)量技術(shù)，厚度測(cè)量值不受回波強(qiáng)度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門高度的影響，具有高測(cè)量穩(wěn)定性和可靠性。

8.更多實(shí)用的功能：

報(bào)警、差值/縮減率、zui大/zui小值。

穿透涂層的技術(shù)參數(shù)

穿透涂層的標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)1臺(tái)

標(biāo)準(zhǔn)探頭1個(gè)

儀器箱1個(gè)

耦合劑1瓶

操作手冊(cè)1本

1.5AA堿性電池 2節(jié)

穿透涂層的多種探頭可選